適用于分揀·檢查的電容測(cè)試儀

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◆電容測(cè)試儀3506-10

·模擬測(cè)量時(shí)間0.5ms(1MHz)的高速測(cè)量

·抗干擾性提高，微小電容的反復(fù)精度大幅提高

·使用1MHz穩(wěn)定測(cè)量低容量電容

◆電容測(cè)試儀 3504-60,3504-50,3504-40

· 模擬測(cè)量時(shí)間1ms(1kHz)可測(cè)量定電壓，適用于測(cè)量高容量MLCC

·可測(cè)量高達(dá)1.45mF的高容量定電壓(120Hz，500mV時(shí))

·3504-60可進(jìn)行4端子接觸檢查

3506-10, 3504-60, 3504-50, 3504-40共通優(yōu)點(diǎn)

■ BIN功能

C測(cè)量根據(jù)測(cè)量值***多分類為14個(gè)等級(jí)，易于進(jìn)行分揀等?！? 3506,3505***多為13個(gè)等級(jí)。3504-40無(wú)BIN功能。

■ 比較器功能

***參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值。判定結(jié)果可進(jìn)行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設(shè)定值始終顯示。

■ 只需選擇的簡(jiǎn)單操作&LED顯示

只需從面板標(biāo)記項(xiàng)目中進(jìn)行選擇，操作簡(jiǎn)單。設(shè)定好的測(cè)量條件會(huì)點(diǎn)亮，能夠一目了然把握設(shè)定條件。

■ 觸發(fā)同步輸出功能

施加觸發(fā)后輸出測(cè)量信號(hào)，僅在測(cè)量時(shí)將信號(hào)施加到被測(cè)物上。因?yàn)槭窃诮佑|被測(cè)物時(shí)流過(guò)大電流，因此能夠減少接點(diǎn)的損耗。

■可存儲(chǔ)99※2組測(cè)量條件

可保存99組測(cè)量條件，可迅速對(duì)應(yīng)在重復(fù)測(cè)量較多的產(chǎn)線上切換被測(cè)物的情況?？衫肊XT I/O讀出任意測(cè)量條件。

■標(biāo)配接觸檢查功能

可檢測(cè)出測(cè)量過(guò)程中的接觸錯(cuò)誤?？闪硗夤芾碛羞^(guò)接觸錯(cuò)誤的樣品，對(duì)提高成品率做出貢獻(xiàn)。

3506-10電容測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)

■測(cè)量速度提升并且提高了反復(fù)測(cè)量精度

3506-10與以往機(jī)型(3506)相比，F(xiàn)AST測(cè)量速度變快，同時(shí)在干擾較多的環(huán)境中測(cè)量微小電容的反復(fù)精度也提高了1/7左右。***適用于組裝進(jìn)貼片機(jī)，分揀機(jī)系統(tǒng)測(cè)量。

■提高了***精度

通過(guò)自校準(zhǔn)功能，可減少因環(huán)境溫度變化引起的測(cè)量值的變動(dòng)。另外，通過(guò)線纜長(zhǎng)度補(bǔ)償功能，在延長(zhǎng)測(cè)量線纜到1m、2m時(shí)可減少測(cè)量誤差。(使用1.5D2V時(shí))。

■豐富了接觸檢查功能

通過(guò)抖動(dòng)檢測(cè)功能、Low C篩選功能、電流檢測(cè)回路監(jiān)視功能、施加電壓值監(jiān)視功能，可檢測(cè)出測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤。對(duì)有過(guò)接觸錯(cuò)誤的被測(cè)物并不是以FAIL而不是以ERR來(lái)判定，對(duì)成品率的提高做出貢獻(xiàn)。

3504-60, 3504-50, 3504-40電容測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)

■ 恒電壓測(cè)量(CV)

可進(jìn)行1V或500mV、100mV※1的恒電壓測(cè)量，支持對(duì)有電壓依賴性的C測(cè)量。測(cè)量頻率可選120Hz、1kHz。

■ 支持組裝進(jìn)貼片機(jī)

3504-40可用于貼片機(jī)組裝，實(shí)現(xiàn)了高速與高性價(jià)比。

■ 4端子接觸檢查功能

3504-60具備有4端子接觸檢查功能的構(gòu)造。可檢測(cè)出包括POT端子在內(nèi)的所有4端子接觸不良，提高了測(cè)量可靠信。

■ 豐富了接觸檢查功能

通過(guò)Low-C篩選功能、抖動(dòng)檢測(cè)功能，可檢測(cè)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤。對(duì)有過(guò)接觸錯(cuò)誤的被測(cè)物并不判定為FAIL，而是判定為ERR，對(duì)成品率的提高做出了貢獻(xiàn)。